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德祥芯片HAST高压加速老化试验箱
发布时间:2023-11-01        浏览次数:4        返回列表
德祥芯片HAST高压加速老化试验箱

HAST蒸煮老化试验箱具有多种老化模式和灵活的操作界面,可以满足不同类型产品的测试需求。它可以进行常

规的湿热老化测试,也可以进行冷热冲击测试和高温老化测试等。它还具有自动化控制和数据记录功能,可以实时

监测和记录试验过程中的温度、湿度和时间等参数,方便用户进行数据分析和结果判定。

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